晶振测试仪 JT-100A 深圳市智检系统有限公司

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简单介绍：

JT-100A晶振测试仪主要功能：频率自校、频率测量、PPm测量、周期测量、数据累计、功能设定 JT-100A晶振测试仪用微机控制，可编程器件开发，模块化设计，100MHz同步等精度测量方式

详情介绍：

一、JT-100A晶振测试仪主要功能：频率自校、频率测量、PPm测量、周期测量、数据累计、功能设定

二、JT-100A晶振测试仪主要技术指标：

频率测量范围：0.1Hz—100MHz

频率测量灵敏度：30mv

PPm测量：3KHz—100MHz

PPm测量精度：≤1 PPm（1×10-6）

（可扩展0.1PPm，0.01 PPm）

中心频率：0 Hz—100 MHz任意设定

误差设置范围设定：± 1—± 999 PPm任意设定。

JT-100A晶振测试仪闸门设置：四档，0.01s、0.1s、1s三档固定，

1档闸门1ms—10s可设，

每1mS为一阶梯任意设定。

周期测量范围：100 ms—10 s

晶振稳定性：5 ×10-7/日

（可选1 ×10-7/日，1 ×10-8/日）

时基频率：OCXO--10MC

三、JT-100A晶振测试仪特点：

微机控制，可编程器件开发，模块化设计

100MHz同步等精度测量方式

SMT贴装生产、工艺，全新小型化结构设计

9位LED显示

PPm提示功能

四、JT-100A晶振测试仪可选配：

晶体测量匹配器：32.768KHz-20MHz 、20MHz-40MHz ,

40MHz-65MHz、65MHz-100MHz .

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产品名称：晶振测试仪