产品名称：小光束扫描狭缝轮廓仪硅探测器

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小光束扫描狭缝轮廓仪：硅探测器，3.5mm 孔径，1.8µm 狭缝

描述： 

这种 NanoScan 扫描狭缝轮廓分析系统使用其硅探测器准确捕获和分析 190nm - 1100nm 的波长。它具有适用于小光束的狭缝尺寸、近乎实时的数据采集速率、可选的功率测量功能，并在 CW 或 kHz 脉冲模式下运行，非常适合对 UV、可见光和 NIR 激光进行综合分析。

• 光束尺寸为 7µm 至 ~2.3mm

• ~10nW 至 ~10W 的功率水平

• USB 2.0 接口

• 包括 NanoScan Standard 或 Professional 软件

规格：

• 波长190-1100nm

• 光束尺寸7μm - 2.3mm

• 界面USB 2.0

• 传感器类型硅

• 兼容的光源CW，脉冲 >25kHz

• 功率范围~10nW - ~10W

• 狭缝尺寸1.8微米

• 孔径尺寸3.5毫米

• 扫描头尺寸83毫米

• 遵守CE、UKCA、中国 RoHS