测量扫描系统带狭缝轮廓仪 NanoModeScan M² 深圳市智检系统有限公司

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产品名称：测量扫描系统带狭缝轮廓仪
产品型号：NanoModeScan M²
产品厂商：以色列OPHIR
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简单介绍：

描述：这种扫描狭缝 M² 测量系统通过其硅、锗或热释电头准确分析波长从紫外到远红外的激光。它具有紧凑的便携式设计、即时结果、符合 ISO 标准的测量，并在 CW 或 kHz 脉冲模式下运行，使其成为对大多数波长的激光进行综合分析的理想选择。扫描头行程：500mm USB 2.0接口包括 M² 分析软件

详情介绍：

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描述：

这种扫描狭缝 M² 测量系统通过其硅、锗或热释电头准确分析波长从紫外到远红外的激光。它具有紧凑的便携式设计、即时结果、符合 ISO 标准的测量，并在 CW 或 kHz 脉冲模式下运行，使其成为对大多数波长的激光进行综合分析的理想选择。